德國蔡司 ZEISS T-SCAN 3D掃描儀：移動計量室，三維數據采集直觀
模塊化 T-SCAN 系統助力實現快速檢測：系統即刻捕捉零 件三維數據，無需任何準備工作。手持式 T-SCAN 激光掃 描儀與光學跟蹤系統 T-TRACK ，T-POINT 接觸式探針結合，形成一套直觀且高精度的三維計量解決方案。搭配 GOM Inspect Suite 軟件套裝，突破了其在三坐標測量 技術領域的新高度。
模塊一體化概念
模塊一體化概念和完整的激光掃描解決方案為各種應用和表面檢測提供高的靈活性。
及時偏差檢測
省時省錢：該移動式測量解決方案可作用于車間現場，帶來直觀的零件分析，測量以及數模建立。
用戶引導性的軟件工作流程
T-SCAN 系統現與 GOM Inspect Suite 軟件套裝結合。用戶可在視察器上實時查看掃描進度，并在掃描，探針探測和檢測過程中獲得軟件操作提示 。
移動式測量系統兩種適配選擇
手持式激光掃描儀可同時與接觸式探針，以及另外兩款光學跟蹤系統搭配使用。蔡司 T-TRACK 20 作為一套技術成熟的系統，最大可覆蓋20 m3 的測量體積 ，全新蔡司 T-TRACK 10 則適用于較小的測量體積，滿足更高的精度要求。
ZEISS T-SCAN
手持式三維激光掃描儀
ZEISS T-POINT
手持式接觸探針，用于單點測量
新品
ZEISS T-TRACK 10
光學跟蹤器，覆蓋10 m3 測量體積
ZEISS T-TRACK 20
光學跟蹤器，覆蓋20 m3 測量體積
數據輕松捕捉手持式德國蔡司 ZEISS T-SCAN 3D掃描儀
T-SCAN 掃描儀可進行快速，直觀的三維數據采集 。 手持式設計符合人體工學，掃描輕松不費力。測頭輕 巧，結構緊湊，尤其適用于可及性非常差的零件部位 的數據采集。
多尺寸測量ZEISS T-TRACK 20
蔡司 T-TRACK 20 的測量體積可達20 m3。單次設置即可測量大至 4 m 的零件。上手容易，您可以高效，準確，快速地采集到三維數據。只需將零件放入其跟蹤體積范圍內，即可進行測量 ，無需準備參考點。
可追溯的精度確保數據重復性和可靠性。
新品
高精度測量ZEISS T-TRACK 10
全新 T-TRACK 10 光學跟蹤系統的測量體積可達10 m3， 與T-SCAN 10 結合，只需進行一次設置，就可以測量長達 2.5 m 的零件。配備高品質的蔡司光學元件，尤其適用于對 精度有高要求的工業應用。
可追溯的精度確保數據重復性和可靠性。
快速單點測量ZEISS T-POINT
蔡司 T-POINT 接觸式探針是對物體標準幾何形狀，切邊區域，以及光測量手段難以進入的死角區域進行單點測量的理想解決方案。它可以快速，穩定地采集到目標位置的三維數據。該設備可以與傳統的測量探針一起使用，更換起來方便快捷。
擴展您的測量體積ZEISS T-SCAN SMTs
通過使用T-SCAN SMT （球形標靶），您可以進一步擴展測量體積，甚至結合多個蔡司T-SCAN 系統使用。當被測零件尺寸過大，或者表面形狀阻礙激光投射時，您可以將這個方便的多位置跟蹤器安裝到物體上，從而獲得精度一致的三維數據。
高過程可靠性GOM Inspect Suite
GOM Inspect Suite擁有成熟的三維計量體系標準。 蔡司 T-SCAN 目前與 GOM Inspect Suite 多合一軟件 解決方案實現同步結合。測量和檢測均可以在軟件 中執行，全參數化的工作流程確保所有過程步驟的 可追溯性。此外軟件提供用戶操作指引，可輔助用 戶進行掃描和探測，從而簡化并加快工作流程。
快速和高精度三維掃描
一系列出色的產品技術特征，比如適用于掃描各類物體表面的高動態范圍，創新攝像技術，高品質蔡司光學元件和高數據速率結合，確保了流暢的掃描過程和精確的測量結果。
動態參考
即使在移動的物體上也能高精度采集三維數據。動態參考功能可以讓您不受零部件運動和震動等惡劣條件影響，高效完成測量任務。
廣泛的行業應用
質量控制 / 檢測
標稱與實際數據對比
零件邊界和邊緣數據獲取(鈑金件)
復雜焊接結構的檢測
車間檢測
模具和模型制造
模具重建
掃描數據以生成加工路徑
對過審模具進行實際數據采集
捕捉復雜零件動態，例如捕捉裝夾過中的變形數據
產品開發和設計
高動態范圍，可掃描各種表面
掃描設計模型用于CAD下游處理和文件存檔
量具和夾具設置
快速采集參考幾何形狀和區域
